من نحن

كشركة رائدة في مجال تصنيع مواد أشباه الموصلات المركبة في الصين. بام-شيامن تطور النمو البلوري المتقدم وتكنولوجيات النضج، وتتراوح بين الجيل الأول من رقاقة الجرمانيوم والجيل الثاني من زرنيخيد الغاليوم مع نمو الركيزة والتجسس على إي-V السيليكون مخدر ن من نوع أشباه الموصلات المواد على أساس غا، آل، في، كما10
اقرأ أكثر
بعد أكثر من 20 سنوات من تراكم والتنمية، شركتنا لديها ميزة واضحة في الابتكار التكنولوجي والمواهب تجمع. في المستقبل، نحن بحاجة إلى تسريع وتيرة العمل الفعلي لتزويد العملاء مع أفضل المنتجات والخدمات
الطبيب تشان -سيو من شيامن بويرواي المتقدمة المواد المشترك.، المحدودة

منتجاتنا

الليزر الأزرق

قوالب غان

تتكون منتجات قوالب بام-شيامن من طبقات بلورية من نيتريد الغاليوم (غان)، نيتريد الألومنيوم (ألن)، نيتريد الغاليوم الألومنيوم (ألغان)، نيتريد الغاليوم الإنديوم (إنغان)، التي تودع على ركائز الياقوت، كربيد السيليكون أو منتجات قالب السيليكون. بام-شيامن تمكن 20-50٪ أقصر دورة دورة مرات وأعلى جودة الفوقي طبقات الجهاز، مع أفضل جودة الهيكلية والموصلية الحراري10

غان على السيليكون

قائما بذاته غان الركيزة

بام-شيامن أنشأت تكنولوجيا التصنيع ل قائما بذاته (نيتريد الغاليوم) غان الركيزة رقاقة، وهو ل أوب بقيادة و لد. التي نمت بها هيدريد بخار مرحلة النضج (هفب) التكنولوجيا، لدينا الركيزة غان ديه كثافة عيب منخفضة.10

غاس الكريستال

غاس (الغاليوم الزرنيخ) رقائق

بوام تطوير وتصنيع ركائز مركب أشباه الموصلات-الكريستال الغاليوم زرنيخيد وافر.لقد استخدمت التكنولوجيا المتقدمة النمو الكريستال، وتجميد التدرج الرأسي (فغف) وتكنولوجيا معالجة غاس رقاقة، أنشأت خط إنتاج من نمو الكريستال، وقطع، وطحن لتلميع تجهيز وبناء غرفة نظيفة 100 درجة لتنظيف ويفر والتعبئة والتغليف. لدينا غاس رقاقة تشمل 2 ~ 6 بوصة سبيكة / رقائق ل ليد، ل10

سيك كريستال

سيك إبيتاكسي

ونحن نقدم العرف رقيقة (كربيد السيليكون) سيك إبيتاكسي على 6H أو 4H ركائز لتطوير أجهزة كربيد السيليكون. يستخدم سيك إيبي رقاقة أساسا لالثنائيات شوتكي، الترانزستورات أشباه الموصلات أكسيد المعادن أكسيد المجال، الترانزستورات تأثير حقل تقاطع، الترانزستورات تقاطع ثنائي القطب، الثايرستور، غتو، وبوابة معزولة القطبين.10

سيك كريستال

الركيزة سيك

بام شيامن تقدم رقائق أشباه الموصلات كربيد السيليكون، 6H سيك و 4 H سيك في درجات الجودة المختلفة للباحث والمصنعين الصناعة. قمنا بتطوير تكنولوجيا النمو الكريستالية الكريستال الكريستالي وكذا الكريستال رقاقة تكنولوجيا معالجة، أنشأت خط الإنتاج إلى الصانع الركيزة سيك، والذي يتم تطبيقه في الجهاز غان نبتاكسي، وأجهزة السلطة، جهاز درجة الحرارة العالية والأجهز10

غان إكسيتاكسي

غان مقرها ليد الفوقي رقاقة

غم (نيتريد الغاليوم) القائم على بام-شيامن لرقاقة الفوقي الصمام هو سطوع عالية جدا الأزرق والأخضر الباعثة للضوء الثنائيات (ليد) وثنائيات الليزر (لد) التطبيق.

غان هيمت

غان هيمت الفوقي رقاقة

(غان) نيتريد (غان) هيمتس (عالية الترانزستورات التنقل الإلكترون) هي الجيل القادم من الترددات اللاسلكية التكنولوجيا الترانزستور السلطة. شكرا لتكنولوجيا غان، بام شيامن الآن تقدم ألغان / غان هيمت إيبي رقاقة على الياقوت أو السيليكون، و ألغان / غان على قالب الياقوت .10

سيك كريستال

سيك رقاقة استصلاح

بام-شيامن قادرة على تقديم خدمات استرداد رقاقة سيك التالية.

لماذا أخترتنا

  • دعم التكنولوجيا الحرة والمهنية

    يمكنك الحصول على خدمة التكنولوجيا المجانية من التحقيق إلى بعد الخدمة على أساس لدينا 25+ الخبرات في خط أشباه الموصلات.

  • خدمة جيدة المبيعات

    هدفنا هو تلبية جميع الاحتياجات الخاصة بك، مهما كانت أوامر الصغيرة و كيف الأسئلة الصعبة قد تكون، للحفاظ على نمو مستدام ومربح لكل عميل من خلال منتجاتنا المؤهلة وخدمة مرضية.10

  • 25+ سنوات الخبرات

    مع أكثر من 25 + سنوات خبرة في مجمع مجال أشباه الموصلات المواد والتصدير الأعمال، فريقنا يمكن أن أؤكد لكم أننا يمكن أن نفهم الاحتياجات الخاصة بك والتعامل مع مشروعك مهنيا.10

  • نوعية موثوق بها

    الجودة هي الأولوية الأولى لدينا. كان بام-شيامن ISO9001: 2008 ، تمتلك وتشارك أربعة الأوعية الحديثة التي يمكن أن توفر مجموعة كبيرة جدا من المنتجات المؤهلة لتلبية الاحتياجات المختلفة لعملائنا، وكل أمر يجب أن يتم التعامل معها من خلال نظام الجودة الصارم لدينا. يتم توفير تقرير الاختبار لكل شحنة، وكل رقاقة10

"لقد تم استخدام رقائق إيبي الطريق السريع لبعض من عملنا. نحن معجبون جدا مع نوعية برنامج التحصين الموسع"
جيمس s.speck، قسم المواد جامعة كاليفورنيا
2018-01-25
"عزيزي بام-شيامن فرق، أشكركم على مهنتكم الرأي، تم حل المشكلة، نحن سعداء جدا ليكون شريك حياتك"
رامان k. تشوهان، الضوئيات سيرين
2018-01-25
"أشكركم على الرد السريع من أسئلتي وبأسعار تنافسية، فمن المفيد جدا بالنسبة لنا، ونحن سوف تأمر مرة أخرى قريبا"
ماركوس سيجر، جامعة أولم
2018-01-25
"لقد وصلت رقاقات كربيد السيليكون اليوم ، ونحن سعداء بها حقًا! يصل إلى طاقم الإنتاج!"
دينيس ، جامعة اكستر
2018-01-25

في العالم الأكثر شهرة الجامعات والشركات تثق بنا

أحدث الأخبار

The contact and photoconductivity characteristics between Co doped amorphous carbon and GaAs: n-type low-resistivity and semi-insulated high-resistivity GaAs

2019-06-17

The Co doped amorphous carbon films (a-C:Co), deposited by pulsed laser deposition, show p-n and ohmic contact characteristics with n-type low resistivity GaAs (L-GaAs) and semi-insulated high-resistivity GaAs (S-GaAs). The photosensitivity enhances for a-C:Co/L-GaAs, while inverse decreases for a-C:Co/S-GaAs heterojunction, respectively. Furthermore, the enhanced photosensitivity for the a-C:Co/L-GaAs/Ag heterojunction also shows deposition temperature dependence behavior, and the optimum deposition temperature is around 500 °C. Source:IOPscience For more information, please visit our website: www.semiconductorwafers.net, send us email at sales@powerwaywafer.com or powerwaymaterial@gmail.com

اقرأ أكثر

Realization and characterization of thin single crystal Ge films on sapphire

2019-06-13

We have successfully produced and characterized thin single crystal Ge films on sapphire substrates (GeOS). Such a GeOS template offers a cost-effective alternative to bulk germanium substrates for applications where only a thin (<2 µm) Ge layer is needed for device operation. The GeOS templates have been realized using the Smart CutTM technique. 100 mm diameter GeOS templates have been manufactured and characterized to compare the Ge thin film properties with bulk Ge. Surface defect inspection, SEM, AFM, defect etching, XRD and Raman spectroscopy were all performed. The results obtained for each characterization technique used have highlighted that the material properties of the transferred thin Ge film were very close to the ones of a bulk Ge reference. An epitaxial AlGaInP/GaInP/AlGaInP double heterostructure was grown atop the GeOS template to demonstrate the template's stability under the conditions encountered in typical device realization. The photoluminescent behavior of thi...

اقرأ أكثر

Optical nonlinearity characteristics of crystalline InSb semiconductor thin films

2019-06-04

The intensity-dependent nonlinear absorption and refraction characteristics of crystalline InSb thin films are investigated by z-scan method at 405 nm laser wavelength. Results show that the nonlinear absorption coefficient of crystalline InSb thin films is in the order of ~ + 10−2 m W−1, and the nonlinear refractive index is in the order of ~ + 10−9 m2 W−1. Variable-temperature ellipsometric spectroscopy measurements and electronic process analyses as well as theoretical calculations are employed to discuss the internal mechanisms responsible for the giant optical nonlinearity. Analysis results indicate that the nonlinear absorption mainly stems from the laser-induced free-carrier absorption effect, whereas the nonlinear refraction is mainly from thermal effect due to band gap shrinking and carrier effect due to the transition process of electrons, respectively. These characteristics may be responsible for the super-resolution effect in nano-optical information storage. Source:IOPscie...

اقرأ أكثر

Study of a double epi-layers SiC junction barrier Schottky rectifiers embedded P layer in the drift region

2019-05-27

This paper proposes a double epi-layers 4H–SiC junction barrier Schottky rectifier (JBSR) with embedded P layer (EPL) in the drift region. The structure is characterized by the P-type layer formed in the n-type drift layer by epitaxial overgrowth process. The electric field and potential distribution are changed due to the buried P-layer, resulting in a high breakdown voltage (BV) and low specific on-resistance (Ron,sp). The influences of device parameters, such as the depth of the embedded P+ regions, the space between them and the doping concentration of the drift region, etc., on BV and Ron,sp are investigated by simulations, which provides a particularly useful guideline for the optimal design of the device. The results indicate that BV is increased by 48.5% and Baliga's figure of merit (BFOM) is increased by 67.9% compared to a conventional 4H–SiC JBSR. Source:IOPscience For more information, please visit our website: www.semiconductorwafers.net, send us email at sales@p...

اقرأ أكثر

Growth of InP directly on Si by corrugated epitaxial lateral overgrowth

2019-05-23

In an attempt to achieve an InP–Si heterointerface, a new and generic method, the corrugated epitaxial lateral overgrowth (CELOG) technique in a hydride vapor phase epitaxy reactor, was studied. An InP seed layer on Si (0 0 1) was patterned into closely spaced etched mesa stripes, revealing the Si surface in between them. The surface with the mesa stripes resembles a corrugated surface. The top and sidewalls of the mesa stripes were then covered by a SiO2 mask after which the line openings on top of the mesa stripes were patterned. Growth of InP was performed on this corrugated surface. It is shown that growth of InP emerges selectively from the openings and not on the exposed silicon surface, but gradually spreads laterally to create a direct interface with the silicon, hence the name CELOG. We study the growth behavior using growth parameters. The lateral growth is bounded by high index boundary planes of {3 3 1} and {2 1 1}. The atomic arrangement of these planes, crystallographic o...

اقرأ أكثر

Charge transport performance of high resistivity CdZnTe crystals doped with In/Al

2019-05-13

To evaluate the charge transport properties of as-grown high resistivity CdZnTe crystals doped with In/Al, the α particle spectroscopic response was measured using an un-collimated 241Am (5.48 MeV) radioactive source at room temperature. The electron mobility lifetime products (μτ)e of the CdZnTe crystals were predicted by fitting plots of photo-peak position versus electrical field strength using the single carrier Hecht equation. A TOF technique was employed to evaluate the electron mobility for CdZnTe crystals. The mobility was obtained by fitting the electron drift velocities as a function of the electrical field strengths, where the drift velocities were achieved by analyzing the rise-time distributions of the voltage pulses formed by a preamplifier. A fabricated CdZnTe planar detector based on a low In concentration doped CdZnTe crystal with (μτ)e = 2.3 × 10−3 cm2/V and μe = 1000 cm2/(V dot m s), respectively, exhibits an excellent γ-ray spectral resolution of 6.4% (FWHM = 3.8 ke...

اقرأ أكثر

Selective-area growth of GaN on non- and semi-polar bulk GaN substrates

2019-05-09

We carried out the selective-area growth of GaN and fabricated InGaN/GaN MQWs on non- and semi-polar bulk GaN substrates by MOVPE. The differences in the GaN structures and the In incorporation of InGaN/GaN MQWs grown on non- and semi-polar GaN substrates were investigated. In the case of selective-area growth, different GaN structures were obtained on GaN,  GaN, and GaN substrates. A repeating pattern of  and  facets appeared on  GaN. Then, we fabricated InGaN/GaN MQWs on the facet structures on  GaN. The emission properties characterized by cathodoluminescence were different for  and  facets. On the other hand, for InGaN/GaN MQWs on non- and semi-polar GaN substrates, steps along the a-axis were observed by AFM. In particular on  GaN, undulations and undulation bunching appeared. Photoluminescence characterization indicated that In incorporation increased with the off-angle from the m-plane and also depended on the polarity. Source:IOPscience F...

اقرأ أكثر

Analysis of the band alignment of highly strained indium-rich GaInNAs QWs on InP substrates

2019-04-29

The focus of this paper is to present the calculations of the band alignment of indium-rich (>53%) highly strained Ga1−xInxNyAs1−y quantum wells on InP substrates which allows an emission wavelength of the order of 2.3 µm. We concentrate on the band alignment of Ga0.22In0.78N0.01As0.99 wells lattice matched to In0.52Al0.48As barriers. Our calculations show that the incorporation of nitrogen into Ga1−xInxAs improves the band alignment significantly allowing Ga0.22In0.78N0.01As0.99/In0.52Al0.48As quantum wells on InP substrates to compete with the unique band alignment of GaInNAs/GaAs quantum wells on GaAs substrates. Source:IOPscience For more information, please visit our website: www.semiconductorwafers.net, send us email at sales@powerwaywafer.com or powerwaymaterial@gmail.com

اقرأ أكثر

High-Performance InAs Quantum Well based Corbino Magnetoresistive Sensors on Germanium Substrates

2019-04-25

High-quality InAs/Al0.2Ga0.8Sb quantum well structures were grown on Germanium substrates by molecular beam epitaxy (MBE). Electron mobilities of 27,000 cm2/Vs for sheet concentrations of nS=1.8×1012 cm-2 were routinely achieved at room temperature for undoped InAs/Al0.2Ga0.8Sb quantum well structures on Germanium substrates. We developed a simple processing technology for the fabrication of Corbino magnetoresistive devices. Excellent current sensitivities of 195 Ω/T and voltage sensitivities of 2.35 T-1 at a magnetic field of 0.15 T were measured for Corbino shaped magnetoresistors on Germanium substrate at room temperature. This sensing performance is comparable to that obtained by identical sensors on GaAs substrate. Source:IOPscience For more information, please visit our website: www.semiconductorwafers.net, send us email at sales@powerwaywafer.com or powerwaymaterial@gmail.com

اقرأ أكثر

Structural and optical characterization of GaSb on Si (001) grown by Molecular Beam Epitaxy

2019-04-17

GaSb epilayers were grown on Si (001) using molecular beam epitaxy via AlSb quantum dots as an interfacial misfit (IMF) array between the Si substrates and GaSb epilayers. The effect of IMF array thickness, growth temperature and post annealing on the surface morphology, structural and optical properties of the GaSb on Si were investigated. Among five different IMF array thicknesses (5, 10, 20, 40 and 80 ML) that were used in this study, the best result was obtained from the sample with a 20 ML AlSb IMF array. Additionally, it was found that although the full width at half maximum (FWHM) and threading dislocation (TD) densities obtained from high resolution x-ray diffraction curves can be improved by increasing the growth temperature, a decrease in the photoluminescence (PL) signal and an increase in the surface roughness (RMS) emerged. On the other hand, the results indicate that by applying post annealing the GaSb epilayer crystal quality can be improved in terms of FWHM, TD density,...

اقرأ أكثر

اتصل بنا

إذا كنت ترغب اقتباس أو مزيد من المعلومات حول منتجاتنا، يرجى ترك لنا رسالة، وسوف الرد عليك في أقرب وقت ممكن.