كثافة وتشتت الضوء كثافة الأكسجين تترسب في cz السيليكون يتم قياس بلورات بواسطة الأشعة المقطعية الأشعة نثر الضوء. وتناقش البيانات العددية الموضحة من خلال القياسات فيما يتعلق كمية الأوكسجين المترسب. تتوافق النتائج التي تم الحصول عليها هنا مع التحليل النظري لأن رواسب الأكسجين تسبب تشتت الضوء. تشرح المعلومات التي تم الحصول عليها عن طريق الأشعة المقطعية ir تشتت الضوء بشكل جيد جدا عملية الترسيب من الأكسجين في بلورات السيليكون تشيكوسلوفاكيا ، وكثافة الرواسب التي تم الحصول عليها بهذه الطريقة موثوق بها.
مصدر: iopscience
مزيد من المعلومات حول المنتجات الأخرى ذات الصلة مثل بنية الكريستال نيتريد السيليكون ، رقائق السيليكون كربيد ، يرجى زيارة موقعنا على شبكة الانترنت: ،
أرسل لنا البريد الإلكتروني على أو
معلومات الاتصال
luna@powerwaywafer.compowerwaymaterial@gmail.com 
+86-592-5601 404
